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IDT70V9089/79S/L
High Speed 3.3V 64/32K x 8 Synchronous Dual-Port Static RAM
AC Test Conditions
Industrial and Commercial Temperature Ranges
Input Pulse Levels
Input Rise/Fall Times
Input Timing Reference Levels
Output Reference Levels
Output Load
GND to 3.0V
3ns Max.
1.5V
1.5V
Figures 1,2 and 3
3750 tbl 10
DATA OUT
3.3V
590 ?
DATA OUT
3.3V
590 ?
435 ?
30pF
435 ?
5pF*
3750 drw 03
Figure 1. AC Output Test load.
3750 drw 04
Figure 2. Output Test Load
(For t CKLZ , t CKHZ , t OLZ , and t OHZ ).
*Including scope and jig.
8
7
6
5
-10 pF is the I/O capacitance
of this device, and 30pF is the
AC Test Load Capacitance
tCD 1 ,
tCD 2
(Typical, ns)
4
3
2
1
0
20 40 60 80 100 120 140 160 180 200
-1
Capacitance (pF)
,
3750 drw 05
Figure 3. Typical Output Derating (Lumped Capacitive Load).
7
6.42
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